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德國(guó)Werth XCT_X射線斷層掃描復(fù)合式三坐標(biāo)測(cè)量中心

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 更新時(shí)間:2024-06-17

簡(jiǎn)要描述:德國(guó)Werth公司生產(chǎn)的TOMO X-CT測(cè)量機(jī),*家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測(cè)量,并可選配光學(xué), 光纖, 探針, 激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量的同時(shí),可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。

產(chǎn)品詳情

德國(guó)Werth公司生產(chǎn)的TOMO X-CT測(cè)量機(jī)
簡(jiǎn)單介紹:
*家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無損可視化準(zhǔn)確測(cè)量,并可選配光學(xué), 光纖, 探針, 激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量的同時(shí),可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析??蓪?duì)塑料, 陶瓷, 復(fù)合材料, 金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無損尺寸測(cè)量和裝配評(píng)估等。壓縮測(cè)量周期的同時(shí),保證了高品質(zhì)的要求。此測(cè)量機(jī)榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計(jì)金獎(jiǎng)。
德國(guó)Werth公司生產(chǎn)的TOMO X-CT測(cè)量機(jī)主要特點(diǎn): 
◆ 將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測(cè)量◆ 可選配第二個(gè)Z軸,配置其他傳感器(光學(xué),探針,光纖,激光等)
◆ Werth公司*技術(shù)的復(fù)合式傳感器技術(shù),進(jìn)一步保證CT測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
◆ 堅(jiān)固的花崗巖基座,保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性
◆ 高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng),確保實(shí)現(xiàn)zui高精度的測(cè)量
◆ 無論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu),測(cè)量機(jī)*并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重建技術(shù),測(cè)量速度更快
◆ Werth公司*技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)
◆ Werth公司*技術(shù)的柵格斷層掃描
德國(guó)Werth公司生產(chǎn)的TOMO X-CT測(cè)量機(jī)技術(shù):
    精密測(cè)量微小部件
    掃描更大尺寸工件,提高分辨率
    擴(kuò)展測(cè)量范圍
◆ 測(cè)量軟件可快速3D重構(gòu),也可進(jìn)行2D測(cè)量
◆ 測(cè)量工件內(nèi)部尺寸的同時(shí),也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
◆ 選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件(德國(guó)國(guó)家*PTB長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ,界面友好,操作簡(jiǎn)單
◆ 可使用*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對(duì)
◆ 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測(cè)量,*評(píng)估,逆向工程, 高質(zhì)量控制等 
 技術(shù)參數(shù):
 

型號(hào)     
TomoScope
TomoCheck
TomoScope HV
Compart
TomoScope HV
zui大測(cè)量工件尺寸(直徑)
90mm
90mm
350mm
350mm
zui大測(cè)量高度
200mm
200mm
350mm
500mm
zui大允許誤差(E1:單軸精度)
(2,5+L/120) µm
(0,5+L/900) µm
(2,5+L/120) µm
(2,5+L/120) µm
(E2:平面精度)
(2,9+L/100) µm
(0,7+L/600) µm
(2,9+L/100) µm
(2,9+L/100) µm
E3:空間精度)
(4,5+L/75) µm
(1,5+L/500) µm
(4,5+L/75) µm
(4,5+L/75) µm
X射線源
130kV(150,190kV可選)
130kV
225kV
225kV
(450kV可選)
X射線探測(cè)器
1024x1024pixel
50x50mm
1024x1024pixel
50x50mm
1024x1024pixel
200x200mm
2048x2048pixel
400x400mm
分辨率
0.1um
0.1/0.01um
0.1um
0.1um
定位速度
150mm/s
60mm/s
150mm/s
150mm/s
加速度
300mm/s2
250 mm/s2
350 mm/s2
350 mm/s2
工作臺(tái)承重
2kg
10kg
40kg
40kg
電源
115x230V
3x400V/N/PE
3x400V/N/PE
3x400V/N/PE
氣壓
7-10bar
7-10bar
7-10bar
7-10bar
儀器自重
3000kg
6000kg
8500kg
11000kg
1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200, WFP測(cè)量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h  m≤2kg
http://www.51175118.com

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