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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
簡要描述:特點(diǎn): 含模擬器件測試庫,可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.測量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測試通道驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA可測量輸入電壓:±24V輸入阻抗:大于1MΩIC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
產(chǎn)品綜述:
數(shù)字集成電路測試功能模塊(ABI-6400)
在BM-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個(gè)量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.
數(shù)字集成電路測試的高級(jí)測試模塊(ABI-6500)
該模塊是ABI-6400模塊的升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級(jí)測試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.
模擬集成電路測試功能模塊(ABI-2400/2500)
在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測試.所有常見的模擬集成電路皆可以測試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.
綜合型基礎(chǔ)儀表模塊(ABI-6300)
在ABI-6300儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測試及量測用的儀表功能在同一模塊之中.此種設(shè)計(jì)方式,適合用于教育及一般用途的電子量測使用.其模塊提供了頻率/事件計(jì)數(shù)器,數(shù)字存儲(chǔ)式示波器,信號(hào)產(chǎn)生器,雙信道的數(shù)字電表,固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來設(shè)計(jì)客制化的儀器操作接口.
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(ABI-1100)
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過電壓及過載保護(hù)功能.
主要功能
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能
具64個(gè)量測通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號(hào).一組5V /5A的電源輸出.可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時(shí)序信號(hào)測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對(duì)功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對(duì)數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對(duì)功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能
具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對(duì)模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對(duì)功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能
具128量測通道(64通道X2個(gè)模塊).可調(diào)整測量信號(hào)電壓范圍.針對(duì)數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測量結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能
具有24量測通道及外加二組獨(dú)立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號(hào)輸出.內(nèi)建測量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能
具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式,并可直接進(jìn)行測量波形的比對(duì)功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號(hào)的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時(shí)序編輯功能
具有64個(gè)信號(hào)通道可供編輯數(shù)字時(shí)序信號(hào),每個(gè)通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號(hào)、并且儲(chǔ)存之后再進(jìn)行比對(duì).
Floating Digital Multimeter雙通道萬用電表功能
具二組自動(dòng)換文件的測量通道,可測量DC及AC電壓信號(hào)達(dá)400V,可測量DC及AC電流信號(hào)可達(dá)2A.阻抗測量可達(dá)20M歐姆,各信道具有統(tǒng)計(jì)功能,可顯示zui大值、zui小值及平均值.另外提供一組計(jì)算器,可針對(duì)所測量到的數(shù)值進(jìn)行實(shí)時(shí)的計(jì)算并記錄.
Universal I/O 通用型輸出/輸入通道功能
具有四組模擬信號(hào)通道及四組數(shù)字信號(hào)通道.模擬信號(hào)通道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測、電流輸出及電流測量四種工作模式.其電壓范圍為-9V to +9V,而電流范圍可達(dá)20mA.數(shù)字信號(hào)通道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測目前通道的信號(hào)邏輯狀態(tài),其輸出及輸入能力是以TTL位準(zhǔn)為標(biāo)準(zhǔn).
Short Locator 短路電阻測量功能
具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能
具三組固定式的電源輸出,分別為:5V/0.5A輸出,+9V/ 100mA輸出及-9V/100mA輸出.各信道都具有電流值監(jiān)測功能.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.
模塊介紹
英國ABI-6400/ABI-6500數(shù)字集成電路測試模塊(ABI-6400和ABI-6500任選其一)
英國ABI-6400數(shù)字集成電路測試模塊
英國ABI-6500數(shù)字集成電路測試模塊
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試(低電阻測試)
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電
測試準(zhǔn)確-源自*的測試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測定,可以觀測曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障.方便找出不穩(wěn)定器件.
系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充,直至256通道.6500可以擴(kuò)充到2048路.
產(chǎn)品特征:
中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
模擬測試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號(hào)隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競爭隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴(kuò)充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能**.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測試.
讀寫存儲(chǔ)器功能測試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路,自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能,方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試:可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格:
數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格 | |
測試通道數(shù): | 64通道可擴(kuò)展到256通道/6500可擴(kuò)充2048通道 |
總線隔離信號(hào)通道數(shù): | 4通道or 8通道 |
實(shí)時(shí)比對(duì)功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
輸出驅(qū)動(dòng)電壓 | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
一般H-L 80mA @ 0.6V | |
一般 L-H 200mA @ 2V | |
Max. 400mA | |
驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
電壓范圍: | +/-10V |
輸入阻抗: | 10k |
邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路(內(nèi)定或由程序設(shè)定) |
驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)(tri-state) |
過電壓保護(hù)范圍: | <0.5V,>5.5V |
zui長測試時(shí)間: | 根據(jù)被測元器件而定 |
測試方式: | 在線及離線測試(需外接離線測試盒) |
測試功能及參數(shù) | 參數(shù)主要區(qū)別 |
集成電路功能測試 | 根據(jù)元件原理和真值表進(jìn)行功能測試 |
元器件連接特性測試 | 短路狀態(tài)偵測 |
懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測 | |
開路狀態(tài)偵測 | |
連接狀態(tài)偵測:6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍(-10~+10v),模擬仿真測試范圍更加廣泛. | |
電壓測量 | zui小解析10mV范圍+/-10V |
具邏輯狀態(tài)偵測 | |
VI曲線測試: | 測試通道數(shù)64 256(擴(kuò)展) |
電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V(可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 | |
zui大測試電流 1mA | |
曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有助 |
電源供給規(guī)格參數(shù):
自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
(2x5V@5A固定式for128信道) | |
過電壓保護(hù): | 7V |
過電流保護(hù): | 7A |
測試模式 | |
單次(Single): | 單次測試 |
循環(huán)(Loop): | 反復(fù)測試,或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL) |
自動(dòng)掃描測試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
zui小調(diào)整解析: | 100mV |
低信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn): | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
高信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
英國ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:
6400 | 6500 | |
測試范圍 | 5V數(shù)字IC | 多種電源數(shù)字IC |
后置驅(qū)動(dòng)能力 | 400mA (MAX) | 600mA (MAX) |
隔離信號(hào)通道 | 4組信號(hào) | 8組信號(hào)(支持較大驅(qū)動(dòng)電流) |
測量電壓范圍 | +10V~ -10V | +20V~ -20V |
英國ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測試模塊
特點(diǎn):
含模擬器件測試庫,可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數(shù)字集成電路的測試.
可進(jìn)行在線或離線測試與分析.
具有24路測試通道.
安全性高的無電源測量方式.
矩陣式V-I曲線測試,可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試.
在進(jìn)行離線測試時(shí),可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測試.
具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中zui多的信號(hào)頻率文件位,對(duì)于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對(duì)測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試,以防止量測信號(hào)失真.
可由軟件來進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來清楚的表示量測位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.
測試參數(shù):
測量通道: | 24測試通道 |
探筆通道: | 2通道實(shí)時(shí)對(duì)比測試 |
信號(hào)通道: | 2通道同步脈沖信號(hào) |
測試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
測試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
測試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ:100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
測試信號(hào)波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
矩陣測試: | 各個(gè)管腳間的VI曲線測試 |
波形自動(dòng)對(duì)比: | 可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形,或?qū)⒉ㄐ芜M(jìn)行存儲(chǔ)后,再進(jìn)行比對(duì). |
同步脈沖輸出: | 正向(Positive),負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形 |
同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由+10V~ -10V |
功能強(qiáng)大的2500
含模擬器件測試庫,可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測試.
測量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測試方式:在線測試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)
晶體管測試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測量工作,其內(nèi)部提供了許多測量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
6300多功能儀表模塊
1.數(shù)字存儲(chǔ)示波器
數(shù)字儲(chǔ)存式示波器 | 水平軸規(guī)格 | |||
帶寬: | > 100MHz | 掃描頻率: | 5ns/div~5s/div | |
采樣率: | 50MS/s (5GS/s ERS 模式) | 存儲(chǔ)深度: | 各通道為64kbytes | |
通道數(shù): | 2通道+外部觸發(fā)通道 | 觸發(fā)模式: | 一般,自動(dòng),單一 | |
耦合模式: | AC,DC,GND | 內(nèi)部觸發(fā)規(guī)格: | ||
輸入阻抗: | 1M Ω,25pF | 觸發(fā)信號(hào)來源 | 通道一,通道二及信號(hào)發(fā)生器(MIS3) | |
電壓靈敏度: | 20mV to 2V /div | 觸發(fā)信號(hào)型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | |
電壓分辨率: | 8 bits | 靈敏度: | <0.5分格 | |
zui大輸入電壓: | 100VDC | 信號(hào)濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | |
外部觸發(fā)規(guī)格 | 觸發(fā)延遲設(shè)定范圍: | |||
輸入阻抗: | 1MΩ, 25pF | 預(yù)觸發(fā): | 0~*掃描周期 | |
觸發(fā)信號(hào)型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | 延時(shí)觸發(fā): | 0~*掃描周期 | |
靈敏度: | <10mV | 特殊功能: | 自動(dòng)測量輸入信號(hào)參數(shù) | |
信號(hào)濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | 自動(dòng)測量輸入信號(hào)參數(shù) | ||
zui大輸入電壓: | 100V DC | 信號(hào)波形比對(duì)功能 |
2.信號(hào)發(fā)生器
信號(hào)發(fā)生器: | |||
輸出波形種類: | 正弦波,方波,三角波,單次脈波. | ||
輸出頻率范圍: | 0.1Hz~10MHz, 調(diào)整分辨率:0.1% 滿刻度 | ||
信號(hào)周期范圍: | 100ns~10s | ||
調(diào)變模式: | 調(diào)幅,調(diào)頻,脈寬調(diào)變(AM,FM,PWM) | ||
調(diào)變信號(hào)頻率: | 400Hz 內(nèi)部信號(hào) | ||
直流偏壓可調(diào)范圍: | -7.5V~7.5V, 分辨率 50mV | ||
分辨率: | 1% | 掃描功能規(guī)格: | |
信號(hào)電壓幅度: | 0V~5V, 分辨率: 50mV | 可設(shè)定起始頻率范圍: | 0.1Hz~10MHz |
可變工作周期范圍: | 20%~80% | 可設(shè)定結(jié)束頻率范圍: | 0.1Hz~10MHz |
上升 / 下降時(shí)間: | 25ns | 可設(shè)定步階: | 1~1000 |
輸出阻抗: | 50Ω | 每步進(jìn)的保持時(shí)間設(shè)定范圍: | 0.1sto9.9s |
3.通用型接口通道
道數(shù): | 4 組通道 |
模擬通道規(guī)格: | |
通道功能模式: | 電壓輸出,電壓輸入,電流輸出,電流輸入 |
電壓輸出范圍: | -9V~+9Vm 調(diào)整分辨率10mV |
電壓輸入范圍: | -10V~+10V,調(diào)整分辨率10mV |
電流輸出范圍: | 0~±20mA,調(diào)整分辨率μA |
數(shù)字通道規(guī)格: | |
通道功能模式: | 邏輯輸出高電平,邏輯輸出低電平 |
電壓電平類型: | TTL 兼容的邏輯信號(hào) |
4.數(shù)字隔離雙通道萬用表
測量通道數(shù): | 2 通道 | 通道二功能規(guī)格: | |||
輸入阻抗: | 10MΩ | 測量功能模式:交/直流電壓,交/直流電流,電阻測量. | |||
測量統(tǒng)計(jì)功能: | zui小/zui大值,平均值 | 電壓測量范圍: | 0~400V | 直流電流分辨率: | 1mA |
通道一功能規(guī)格: | 電流測量范圍: | 0~2A | 直流電流精度: | ±0.1% | |
測量功能模式: | 交/直流電壓 | 電阻測量范圍: | 0~20MΩ | 交流電流分辨率: | 1mA |
電壓測量范圍: | 0~400V | 直流電壓分辨率: | 0.01% | 交流電流精度: | ±0.2% |
直流電壓分辨率: | 0.005%滿刻度 | 直流電壓精度: | ±0.05% | 電阻測量分辨率: | 0.01% |
交流電壓分辨率: | 0.05% 滿量程 | 交流電壓分辨率: | 0.05% | 電阻測量精度: | ±0.1% |
交流電壓精度: | ±0.1% | 交流電壓精度: | ±0.1% |
5.頻率計(jì)/事件計(jì)數(shù)器
量測模式:事件計(jì)數(shù),頻率計(jì)數(shù),脈沖周期 | |
通道一規(guī)格: | |
通道阻抗: | 50Ω |
頻率量測范圍: | 1MHz~150MHz |
靈敏度: | <5mV rms @ 2MHz - 10MHz;<15mV rms @ 10MHz -100MHzw |
脈沖響應(yīng): | 50mV,25ns @ 500Hz |
輸入zui大電壓范圍: | ±5V |
基本精度: | ±0.02%±1count |
通道二規(guī)格: | |
通道阻抗: | 1MΩ |
頻率量測范圍: | 2Hz~100MHz |
靈敏度: | <300mV rms @ 10Hz;<150mVw rms @ 10kHz to 10MHz;<350mV rms @ 33MHz; |
輸入zui大電壓范圍: | 200Vrms |
基本精度:±0.02% | ±1count |
事件計(jì)數(shù)模式規(guī)格 | |
通道1計(jì)數(shù)范圍: | 0~9,999,999,999 |
外部信號(hào)閘寬zui小: | 20ns |
外部信號(hào)閘寬時(shí)間: | 6hours,10ms/10.74s,5μs/84ms,40nszui小分辨率 |
測量統(tǒng)計(jì)功能: | zui低值,zui高值,平均值 |
顯示模式: | 頻率,周期,轉(zhuǎn)速事件數(shù),脈寬,閘寬時(shí)間 |
6.電源輸出
輸出電壓: | +5V,+9V,-9V |
輸出電流: | +5V /500mA |
+9V /100mA |
1100可調(diào)電源模塊
電源輸出可由軟件控制
可調(diào)式邏輯電壓通道
可調(diào)整2.5V至6V的電壓
zui小電壓(流)調(diào)整解析:0.01V & 0.01A
可調(diào)式正電壓通道
可調(diào)整電壓:0~+24V 電流范圍:50mA~1.5A
zui小電壓(流)調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
可調(diào)式負(fù)電壓通道
可調(diào)整電壓:0~-24V 電流范圍:50mA~1.5A
zui小電壓(流)調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A