英國ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:

主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試（可測模擬器件）
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試（低電阻測試）
實(shí)時顯示輸出邏輯電平值
存儲器功能測試
數(shù)字時序編輯功能
未知器件型號查詢
程控電源供電
 

測試準(zhǔn)確-源自*的測試技術(shù)

同一器件同一時間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時序圖形顯示,具體時序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達(dá)幾十種.

產(chǎn)品特征:

中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
模擬測試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴(kuò)充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能**.
IC型號識別:標(biāo)識不清或被擦除型號的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號識別測試.
讀寫存儲器功能測試5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。

數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格：

電源供給規(guī)格參數(shù)：