英國ABI-6400電路板故障檢測儀產(chǎn)品突出特征：

1）產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2）64路數(shù)字集成電路測試，64路V-I曲線測試，1路v-i探棒測試
3）同一器件可以在同一時間完成多種測試：功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點系數(shù)測試，連接狀態(tài)測試，管管腳電壓測試
4）測試庫達(dá)上萬種元器件，可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫，可以快速擴充測試庫
5）整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵型號及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。
6）短路追蹤可以快速找到短路點
7）V-I曲線溫漂拐點系數(shù)測定，方便找出不穩(wěn)定器件
8）V-I曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進調(diào)整，可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號，掃描信號可達(dá)幾十種。
8）邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件
9）邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤結(jié)果.
10）配有離線測試盒，快速測試批量元器件。離線測試和在線測試功能*一至。
12）系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進行通道擴充，直至256通道

產(chǎn)品介紹及特點：

1）數(shù)字測試通道:64路（可擴充到256通道）.
2）模擬測試通道64路（可擴充到256通道）.
3）隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等），可提供4路總線競爭隔離信號。
4）快速掌握被測元件的多種信息,針對一個器件同時完成多種測試:數(shù)字ic功能測試,V-I曲線測試,曲線拐點溫度變化系數(shù),各個管腳電壓值測量,管腳連接狀態(tài)測量顯示,
5）能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進行在線/離線功能測試；上萬種測試元件庫，元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6）邏輯電平閾值自定義。
7）邏輯電平閾值自動掃描,以確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯誤結(jié)果.
8）輸入輸出邏輯時序圖形顯示、具體時序電壓值顯示,方便掌握具體有用測試信息。
9）IC型號識別：針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試。
10）讀寫存儲器功能測試:可針對記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進行讀取,對比及將資料存入電腦中,可進行在線或離線測試.可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼
11）V-I曲線模擬特征分析測試:V-I曲線測試通過比較好和壞電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障.可把故障定位到電路結(jié)點.V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進行測試,V-I曲線測試無需給電路板加電,測試安全。
12）5V/5A的直流電源程控自動輸出,具有過電壓及過電流保護功能.由系統(tǒng)自動控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時間.方便各種類型電路板的測試。
13）V-I曲線測試功能:可針對數(shù)位元件直接進行測試,具有64組測量通道并可以擴充到256組通道,測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,其輸出電流由系統(tǒng)自動調(diào)整設(shè)定.
14）圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。
15）電路板整板測試，通過圖像化測試庫編輯器，測試者可以根據(jù)電路板的原理圖，將電路板的輸入輸出的時序進行圖形化的測試庫編譯，自定義輸入通道的測試激勵信號，根據(jù)電路板的原理推算出輸出通道的響應(yīng)時序信號，并將測試庫保存在測試庫中，以備日后做整板檢測使用。
16）短路電阻測量功能：三段低電阻測量范圍，可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小，并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點。
17）中英文測試軟件，體積小，usb口連接電腦
18）V-I曲線測試電壓-10v~+10v內(nèi)可以調(diào)整，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v zui大限度地保證測試的安全性。
19）該設(shè)備可以64路通道為標(biāo)準(zhǔn)進行擴充，直至256路，保證了整板測試的zui大路數(shù)為256路。
20）V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
21）數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動上加上拉電阻。
22）V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試
23）LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行功能及狀態(tài)分析測試。

技術(shù)參數(shù)：